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武漢頤光科技有限公司
武漢頤光科技有限公司(WuhanEopticsTechnologyCo,Ltd)是國(guó)內(nèi)從事橢偏儀以及光學(xué)納米測(cè)量設(shè)備研發(fā)、制造與銷(xiāo)售的企業(yè)。公司由多位具有二十多年偏振光學(xué)測(cè)量經(jīng)驗(yàn)的專(zhuān)家聯(lián)合創(chuàng)辦,與華中科技大學(xué)緊密合作,現(xiàn)有員工80%以上擁有碩士或博士學(xué)位,是橢偏光學(xué)儀器領(lǐng)域非常有優(yōu)勢(shì)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。頤光科技注冊(cè)于武漢東湖國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向,為用戶(hù)提供光學(xué)散射測(cè)量?jī)x等系列產(chǎn)品,并提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導(dǎo)體、光伏太陽(yáng)能、平板顯示、LED照明、存儲(chǔ)、...
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  • 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀操作指南:簡(jiǎn)單易懂的步驟

    光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量薄膜厚度的儀器,它在工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。正確操作測(cè)厚儀能夠確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,提高生產(chǎn)效率。下面將為大家介紹光學(xué)薄膜測(cè)厚儀的操作指南,希望能夠幫助大家更好地使用這一儀器。1、準(zhǔn)備工作:在使用測(cè)厚儀之前,首先要確保儀器處于正常工作狀態(tài)。檢查儀器的電源和連接線(xiàn)是否正常,確保儀器表面干凈無(wú)塵。另外,還需要準(zhǔn)備好待測(cè)樣品,確保樣品表面平整清潔。2、打開(kāi)儀器:接通測(cè)厚儀的電源,等待儀器自檢完成后,就可以開(kāi)始進(jìn)行測(cè)量操作了。通常儀器會(huì)顯示一些...

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  • 膜厚測(cè)試儀在不同材料下的誤差評(píng)估與校正

    膜厚測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)及涂層技術(shù)中,用于測(cè)量薄膜的厚度。然而,不同材料的膜厚測(cè)試中,儀器誤差可能對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生顯著影響。本文將探討膜厚測(cè)試儀在不同材料下的誤差評(píng)估與校正方法,以提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。一、工作原理膜厚測(cè)試儀主要有幾種類(lèi)型,包括光學(xué)干涉式、X射線(xiàn)熒光式和激光掃描式等。光學(xué)干涉式測(cè)試儀通過(guò)分析膜與基底之間反射光的干涉圖樣來(lái)測(cè)量膜厚,而X射線(xiàn)熒光式則通過(guò)測(cè)量膜中元素發(fā)射的X射線(xiàn)強(qiáng)度來(lái)推斷膜厚。不同工作原理的儀器對(duì)材料特性和膜厚的測(cè)量精度具有不同的敏...

    2024

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  • 膜厚測(cè)試儀在涂層行業(yè)中的應(yīng)用

    在當(dāng)今的工業(yè)制造和品質(zhì)控制領(lǐng)域,涂層工藝的重要性日益凸顯。無(wú)論是為了防護(hù)、美觀(guān)還是功能性的增強(qiáng),涂層的均勻性及精確厚度控制都對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和性能有著決定性的影響。膜厚測(cè)試儀作為測(cè)量涂層厚度的關(guān)鍵儀器,其在涂層行業(yè)中的應(yīng)用極為廣泛且至關(guān)重要。本文旨在詳細(xì)探討膜厚測(cè)試儀在涂層行業(yè)中的運(yùn)用及其帶來(lái)的優(yōu)勢(shì):它的應(yīng)用首先體現(xiàn)在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。在電子、汽車(chē)、航空航天等行業(yè),涂層不僅起到防腐、裝飾的作用,還可能涉及到電導(dǎo)性、抗輻射等特殊功能。它能夠快速、無(wú)損地進(jìn)行測(cè)量,確保每一層涂層都達(dá)到了設(shè)...

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  • 光譜橢偏儀的基本概念及作用介紹

    在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展中,對(duì)材料的光學(xué)性質(zhì)進(jìn)行精確測(cè)量是一個(gè)重要的研究領(lǐng)域。光譜橢偏儀作為一種高精度的光學(xué)測(cè)量工具,以其非接觸、非破壞性的特點(diǎn),在材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用?;靖拍睿汗庾V橢偏儀是一種利用光的橢圓偏振特性來(lái)研究材料光學(xué)性質(zhì)和表面結(jié)構(gòu)的儀器。當(dāng)光波照射到材料表面時(shí),由于反射和折射的作用,光波的振幅和相位會(huì)發(fā)生變化,這種變化可以通過(guò)橢偏參數(shù)(ψ和Δ)來(lái)描述。通過(guò)測(cè)量這些橢偏參數(shù),可以精確地計(jì)算出材料的折射率、厚度、粗糙度等重要物理參數(shù)。作用:1....

    2024

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  • 薄膜折射率測(cè)試的作用

    薄膜折射率測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法,用于測(cè)量薄膜材料的折射率,即光在薄膜中傳播時(shí)的光線(xiàn)偏折程度。這項(xiàng)測(cè)試對(duì)于許多領(lǐng)域都具有重要作用,以下將詳細(xì)介紹其作用及意義。1.材料特性評(píng)估可以提供關(guān)于材料光學(xué)特性的重要信息。通過(guò)測(cè)量不同波長(zhǎng)下的折射率,可以了解薄膜材料在光學(xué)上的行為,如透明度、反射率和色散性能等。這有助于評(píng)估材料的質(zhì)量和適用性。2.光學(xué)設(shè)計(jì)和工程應(yīng)用在光學(xué)設(shè)計(jì)和工程應(yīng)用中,薄膜折射率是一個(gè)重要的參數(shù)。它直接影響到光學(xué)器件的性能和功能。通過(guò)測(cè)試薄膜的折射率,可以?xún)?yōu)化光學(xué)器件...

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