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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-膜厚儀系列-反射膜厚儀-RT-V反射透射測量儀

RT-V反射透射測量儀

簡要描述:薄膜折射率測試,RT-V 系列反射透射測量儀,采用進(jìn)口氘鹵二合一光源,結(jié)合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜,并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo),以及薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息。

產(chǎn)品型號(hào):  更新時(shí)間:2024-07-04  瀏覽次數(shù):1827

  • 廠家實(shí)力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

一、概述

       RT-V 系列反射透射測量儀,采用進(jìn)口氘鹵二合一光源,結(jié)合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜,并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo),以及薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息。

   高性價(jià)比穿透率、反射率測量解決方案

 ■  色坐標(biāo)計(jì)算和薄膜特征解析

 

 ■  模塊化定制,支持在線集成應(yīng)用

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

 

■ 采用高性能進(jìn)口氘鹵二合一光源,光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍;

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■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測,基于薄膜層上下界面反射光干涉原理,輕松解析單層至多層薄膜特征;

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產(chǎn)品應(yīng)用

       RT系列反射透射測量儀,可實(shí)現(xiàn)各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準(zhǔn)測量,并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo)、薄膜樣品厚度及光學(xué)常數(shù)。廣泛應(yīng)用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。

 

 

 

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技術(shù)參數(shù)

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武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國內(nèi)專業(yè)從事橢偏儀以及光學(xué)納米測量設(shè)備研發(fā)、制造與銷售的高新技術(shù)企業(yè),公司由多位具有二十多年偏振光學(xué)測量經(jīng)驗(yàn)的專家聯(lián)合創(chuàng)辦,與華中科技大學(xué)緊密合作,是國內(nèi)橢偏光學(xué)儀器領(lǐng)域頗具優(yōu)勢的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。

公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向全球,為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。

 產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導(dǎo)體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲(chǔ)、生物、醫(yī)藥、化學(xué)、電化學(xué)、光學(xué)鍍膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。

 

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