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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產品系統(tǒng)-橢偏儀系列-光譜橢偏儀-SE-VE光譜橢偏儀
詳細介紹
一、概述
SE-VE 是一款高性價比、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
■ 高性價比光學橢偏測量解決方案;
■ 緊湊集成化設計,較高用戶操作體驗;
■ 一鍵快速測量分析,人機交互設計,使用便捷;
■ 豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力。
二、產品特點
■ 采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm);
■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現Psi/Delta光譜數據高速采集;
■ 數百種材料數據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料。
三、產品應用
SE-VE光譜橢偏儀廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。
可選配件
溫控臺 | 真空泵 | 透射吸附組件 |
技術參數
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