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首頁-產品系統(tǒng)-橢偏儀系列-光譜橢偏儀-SE-VE光譜橢偏儀

SE-VE光譜橢偏儀

簡要描述:國產橢偏儀,SE-VE光譜橢偏儀是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設計,操作簡便,一鍵快速測量和向導交互式人機界面,具有豐富的材料數據庫和算法模型庫、強大的數據分析能力。

產品型號:  更新時間:2024-07-04  瀏覽次數:3310

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

一、概述

      SE-VE 是一款高性價比、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。

 

■ 高性價比光學橢偏測量解決方案;

■ 緊湊集成化設計,較高用戶操作體驗;

■ 一鍵快速測量分析,人機交互設計,使用便捷;

■ 豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力。

二、產品特點

 采用高性能進口復合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm);

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■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置,實現Psi/Delta光譜數據高速采集;

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■ 數百種材料數據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料。

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三、產品應用

SE-VE光譜橢偏儀廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。

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可選配件

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ME-L0.png

ME-L.png

溫控臺 真空泵 透射吸附組件

 

 

 

 

 

 

 

 

技術參數

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